黄仁勋称Blackwell芯片曾存在设计缺陷：靠台积电力挽狂澜！

10月23日讯 英伟达 CEO 黄仁勋于当地时间周三在访问丹麦时表示：该公司最新的 Blackwell 芯片曾存在设计缺陷，“Blackwell 芯片可以正常使用，但良率很低。”他还表示，这一缺陷“...

admin 7 0 2024-10-24